국제학회명: The 1st International Test Conference in Asia 2017

장소: 타이페이, 대만

기간: 2017. 09. 13 – 2017. 09. 15

이전부터 여러 번 국제 학회에 참석하여 학회 발표에 대한 부담감이나 긴장감은 없었지만, 제 논문이 속한 Advanced Test Practices 세션에는 이탈리아 시에나의 대학 교수와 반도체 테스트 분야에 저명한 E. J. Marinissen과 함께 배정되어 누가 되지 않도록 꼼꼼히 준비를 해서 참석하였습니다. 특히, 이번 학회는 작년에 참석한 국제 학회와 달리 제가 연구하고 있는 반도체 신뢰성, 테스트 등의 분야의 논문 및 발표 세션만 열리는 학회이므로 해당 기간 동안 유용한 정보를 많이 접할 수 있는 기회가 제공되었습니다.

​

첫째 날은 학회장에서 등록을 진행한 후 ITC-AISA와 함께 개최되는 SEMICON TAIWAN에 참석하여 반도체 관련 동향 및 기술에 대한 세미나를 들을 수 있었으며, 반도체 관련 장비의 시연을 눈으로 확인하며 제가 진행한 연구 관련 분야가 실제로 어떻게 적용되는지를 확인할 수 있었습니다.

둘째 날은 Cell-Aware 및 Automotive 테스트 관련 세션 및 세미나를 참석하여 평소에 관심이 많았던 분야에 대한 정보를 얻을 수 있었습니다. 전 세계의 반도체 신뢰성 및 테스트에 관해 깊이 생각하고 고민하는 연구자들과 모두 동일한 목표인 테스트 시간 감소, 테스트 비용 절감 및 테스트 질의 향상에 관한 공통 주제를 가지고 토론 및 강연을 들음으로서 유익한 시간이 되었습니다.

​

학회 마지막 날인 셋째 날에는 오전에 메모리 테스트 세션에 참석하여 앞으로 연구에 필요한 관련 정보를 습득을 하였으며, 오후에는 Advanced Test Practices 세션에 참석하여 논문을 발표하였습니다. 발표가 끝난 후 질의 및 응답시간에 산업계 종사자들의 현실적인 질문과 해외 교수님들의 학술적인 질문을 응답함으로서 제 논문에 대하여 다양한 관점과 질문, 그리고 피드백을 받을 수 있어 유익하였습니다. 또한, 이탈리아 시에나 대학의 교수님은 제게 명함을 건내며 제 논문을 조금 더 자세히 읽고 이메일로 질문을 보낼 예정이니 답변을 달라고 요청을 할 정도로 발표한 논문과 주제에 대하여 관심을 받았습니다.

​

이번 ITC-ASIA 학회에 참석하면서 실제 산업계 사람들이 갖고 있는 앞으로의 도전과 문제점 그리고 학술적인 해결을 위하여 학계와의 연계사항에 대해 발표하는 내용을 들으며, 앞으로 나의 연구의 방향성에 대해 다시 생각해볼 수 있는 시간을 가질 수 있었습니다. 또한, 동시에 개최되는 SEMICON TAIWAN에 참석함으로서 실무와 반도체 관련 견문을 넓힐 수 있는 좋은 기회가 되었습니다. 국내에서 개최되는 학회도 해외 학회와 같이 자유로운 분위기 속에서 다양한 사람들과 서로의 의견을 주고받을 수 있는 기회를 가질 수 있는 분위기가 조성될 수 있기를 바라며 본 후기를 마칩니다.